ペルチェ導入例
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長寿命のペルチェは、設備のコストダウンやタックトタイムの短縮、ラインの構成を柔軟に変更することが出来る、従来の恒温槽式にとってかわる方式です。
温度試験が適合する電子デバイスとして、水晶、LD、LED、個別半導体、光通信用デバイス、センサー、太陽電池など。特に車載用電子デバイスの一般的は温度試験範囲は-40～+125℃であり適合します。
お客様毎に抱える熱問題の要件はさまざまです。アンペールは高耐久性ペルチェ素子の販売、各製品のカスタマイズ提供、周辺機器構築サポート、技術的アイデアの提案など、お客様の熱問題を解決する為のソリューション提供を心がけています。
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ペルチェユニット導入例
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・LEDを積分球の底面に設置して-10℃に温調するユニット |
| ・大容量レーザーの排熱をする為のユニット |
| ・ハイブリッドICの熱衝撃試験ユニット |
| ・基板実装されているBGAデバイスを-40℃に温調して通電試験 |
| ・石英セル内の溶液を温調する為のユニット |
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・振動を抑える為に水冷式廃熱で実現
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| LEDを積分球の底面に設置して-10℃に温調するユニット |
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主な構成品
・空冷排熱式ペルチェユニット（UT40U60F）
・ペルチェ専用温調器（UTC-100A）
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| 大容量レーザーの排熱をする為のユニット |
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| ハイブリッドICの熱衝撃試験ユニット |
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| 基板実装されているBGAデバイスを-40℃に温調して通電試験 |
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主な構成品
・水冷排熱式ペルチェユニット
（UT40U60W）
・ペルチェ専用温調器
（UTC-100）
・特注温調ビット
・ユニットスタンド
・除湿BOX
・チラー
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| 石英セル内の溶液を温調する為のユニット |
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主な構成品
・水冷排熱式ペルチェユニット
・ペルチェ専用温調器
（UTC-100）
・特注温調ブロック
・チラー
振動を抑える為に水冷式廃熱で実現
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| 発熱量40Wの対象物を-40℃に温調 |
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 株式会社アンペール |
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TEL03-5330-6801
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